四大显微设备SEM、TEM、AFM、STM工做原理

扫描电子显微镜（SEM）

SEM通细致聚焦电子束扫描样品外表时所激发的多种物理信号对其停止调造成像。

SEM就是操纵逐点成像，将试样外表的差别特征，根据先后挨次及比例变更成影像，例如二次电子像等。

背散射电子像

扫描电镜的长处是：

1）有较高的放大倍数；

2）有很大的景深，视野大，成像富有立体感，

3）试样造备简单。

实例图片：

射电子显微镜（TEM）

TEM就是将聚焦电子束投影在很细的试样外表，通过试样透射电子束或者衍射电子束产生的像对试样内微不雅组织构造停止阐发。

TEM凡是被用来研究纳米质料结晶，不雅测纳米粒子描摹，分离以及对纳米粒子粒径大小停止丈量与评价。

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扫描隧道显微镜（STM）

STM就是应用量子理论隧道效应来检测物量外表构造。

一个带着细小电荷的探针缓缓穿过物量，一个电流自探针流出来，穿过了整个物量，抵达了更底层的表层。

探针穿过单个原子时流经探针电流量涨落而获得画面。

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原子力显微镜（AFM）

AFM是通过探测试样外表与一微型力敏感元件间极弱的原子间彼此感化力，对物量外表构造与特征停止研究。

把一对对微弱力反响极为灵敏的微悬臂的一端固定在试样上，另端针尖靠近试样并通过它们之间的彼此感化使微悬臂产生变形或改动运动形态。

操纵传感器检测那些变革来获得外表描摹构造信息及外表粗拙度信息。

AFM分为接触式、非接触式和轻敲式

原子力显微镜的长处：

1）AFM供给实正的三维外表图。

2）不会对样品形成危险。

3）更为普遍的适用性。

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